一片拥有六十八亿颗晶体管的碳基芯片，到底有多强？
韩元期待着，将经过基础故障测试的芯片安置在对应的测试设备中，通过中间计算机启动了操控程序。
计算一块芯片的基础性能，无论是硅基芯片也好，还是碳基芯片也好，其最基础的就是浮点运算速度了。
至于浮点运算速度的测试方法，他依旧使用的是测试硅基芯片的那两种。
第一种是常见的度量算法。
第二种则是π数值计算。
这两种方法，从一开始的磁芯板计算机到后面的集成芯片计算机都在使用。
哪怕是前段时间才制造出来的纳米级硅基芯片，韩元都是使用这种方式测试的。
特别是π数值计算，能比度量算法更加精准的反应一块芯片或者一台计算机的性能。
......
布置好碳基芯片，韩元操控中央计算机先打开了装载有‘度量算法’的程序，将计算功能转移到布置在测试设备中的碳基芯片上去。
度量算法的规则其实相当简单。
就是对常数阶、对数阶、线性阶、线性对数阶、平方阶、立方阶等几种常见阶的多次度量计算
比如让一块芯片计算1、2、4、8、16千平方次，需要的秒数分别进行测试一次，而后再将数据记录下来。
多次进行计算后进行平均，就可以得到一个相对精准的浮点运算速度了。
这种测试方法比较简单，编写程序也简单，便于利用。
但机械化的数值计算无法彻底反映出来一块芯片的性能。
韩元还记得他制造的第一台晶体管计算机，当初他同样是采用了度量算法和π值计算两种方式。
度量算法给出的运算速度是六百万每秒左右，π数值计算则要低一些，在五百多万，接近六百万的样子。
除此之外，关于第一台晶体管计算机，他脑海中的这个系统，也给出了一个计算速度。
韩元清晰的记得系统给出的运行速度是一千七百二十万，比他自己测得的浮点运算速度要多出几倍。